「JEOL-Nikon CLEMソリューションセンター」を開設

2017年8月30日PRESS RELEASE/報道資料

株式会社ニコン(社長:牛田 一雄、東京都港区)と日本電子株式会社(社長:栗原 権右衛門、東京都昭島市、以下「日本電子」)は共同で、最先端のCLEMによるソリューションの体験提供や技術情報の受発信を目的として、日本電子の開発館内に「JEOL-Nikon CLEMソリューションセンター」を2017年9月1日に開設します。

「JEOL-Nikon CLEMソリューションセンター」の概要

住所 東京都昭島市武蔵野3-1-2 日本電子株式会社
主な設置品目 光学顕微鏡(実体顕微鏡、工業用顕微鏡、共焦点レーザー顕微鏡システム)、電子顕微鏡(透過電子顕微鏡、走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ)、各種試料作製機器
電話番号 042-542-2111
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デモンストレーション 事前予約制

CLEMとは、広い範囲を高速に観察し、座標情報や分子の局在情報が得られる光学顕微鏡と、高い空間分解能で観察し微細構造の情報が得られる電子顕微鏡のそれぞれから取得した情報を相関させ、双方のメリットを活かした効果的な観察・分析をする方法です。近年、最先端のバイオサイエンス研究や材料開発研究において、ソフトウエアなどを用いて光学顕微鏡と電子顕微鏡を連携させ、効率的にCLEMを行うニーズが高まっています。

当社は2013年に日本電子と協業して、光学顕微鏡/走査電子顕微鏡リンクシステム「miXcroscopy」を開発しました。また、2014年2月には資本業務提携契約を締結し、ニコンの光学顕微鏡と日本電子の電子顕微鏡を連携させたCLEMソリューションの構築をはじめ、新製品の開発や販売力の強化のために、協業を推進してきました。

このたび開設する本センターにおいて、「miXcroscopy」の製品紹介をはじめ、CLEMソリューションの提案やCLEMの普及推進を行います。お客さまとの対話を通じてCLEMの技術をさらに高めるための情報の受発信を進め、バイオサイエンス研究や材料開発研究における新たな価値創出に貢献します。

[写真]

例:セラミック製のガラス上にある異物をCLEMで観察。

光学顕微鏡(左図)で検出した異物について、電子顕微鏡(真中図)で高分解能観察し、さらに電子顕微鏡の特性X線分析(右図)を用いて組成を分析したところ、鉄であることが判明。CLEMにより、迅速で正確な検出、異物同定・解析を行うことで、より効率的な品質検査や解析が可能になり、工場や研究所における生産性の向上などが期待される。

本件については、日本電子からも同日、同時刻に発表を行っています。

miXcroscopyは、日本電子の登録商標です。

こちらに掲載されている情報は、発表日現在の情報です。販売が既に終了している製品や、組織の変更等、最新の情報と異なる場合がありますのでご了承ください。