PRESS RELEASE/報道資料

世界最高の超高N.A.レンズを搭載、65ナノメートル以下の最先端デバイスに対応ニコン 縮小投影型露光装置 NSR-S308Fの受注開始について

2004年2月23日

株式会社ニコン(社長:嶋村 輝郎)は、世界最高の超高N.A.レンズを搭載し、65ナノメートル以下の最先端デバイスの量産に対応する、レンズスキャン型ArFエキシマステッパー「ニコン 縮小投影型露光装置 NSR-S308F」を開発し、2004年4月から受注を開始します。

「NSR-S308F」は、ArFエキシマレーザ(波長193ナノメートル)に対応した世界最高の超高N.A.(N.A. 0.92)投影レンズ搭載と、新開発のボディの採用によりスループット性能とアライメント精度を格段に向上させました。

  • 大気中において。当社液浸露光では、1.0以上が可能。

販売概要

商品名 ニコン 縮小投影型露光装置「NSR-S308F」
価格〈税別〉 約28億円(仕様・構成により異なる)
受注開始時期 2004年4月

開発の背景

IT革命の根幹を担う、超LSIの高集積化が進み、最先端ラインでは65ナノメートルルールでデバイスの開発、そして生産が計画されています。ニコンは1995年4月に世界初のレンズスキャン型ステッパー「NSR-S201A」を発売。以後、ニコンのレンズスキャン型ステッパーは、世界中の半導体メーカーからその性能と信頼性に高い評価を得て、i線、KrFエキシマレーザ、ArFエキシマレーザの各機種を合わせて、これまでに650台を超える出荷実績を達成しています。

今回発表した「NSR-S308F」は、昨年10月に出荷を開始した「NSR-S307E」の投影レンズをさらに進化させた、ArFエキシマレーザ対応における世界最高の超高N.A.(N.A. 0.92)低収差投影レンズを搭載し、65ナノメートル以下のデバイス量産を実現。さらに新開発のボディの採用により、格段に向上したアライメント精度とスループット性能を発揮します。

主な性能

解像度 65nm以下
N.A.(開口数) 0.92
光源 ArFエキシマレーザ(波長193nm)
縮小倍率 1/4倍
露光領域 26×33mm
アライメント精度 8nm以下(M+3σ)
スループット 300mmウェハ毎時140枚以上

主な特長

  • 世界最高の超高N.A.(N.A. 0.92)投影レンズを搭載

    ArFエキシマレーザに対応した世界最高のN.A. 0.92という超高性能の縮小投影レンズを搭載。65ナノメートルルールの次世代デバイス量産を実現します。
    微細化の進む次世代DRAMやMPUなどの量産に対応します。

  • アライメント精度のさらなる向上

    アライメントセンサーの改良により、アライメント精度は従来機種比約50%アップの、8ナノメートルを達成しました。

  • アライメント精度のさらなる向上

    新開発のボディの採用によりスループット(処理能力)等を向上させ、CoO低減を実現。  300ミリウェハでは、1時間あたり140枚以上を処理します(従来機種比、約25%向上)。

  • CoO(Cost of Ownership)のさらなる低減

    新開発のボディの採用によりスループット(処理能力)等を向上させ、CoO低減を実現。 300ミリウェハでは、1時間あたり140枚以上を処理します(従来機種比、約25%向上)。


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