超高N.A.レンズを搭載した高スループットArFスキャナーニコン縮小投影型露光装置 NSR-S306Cを来春から受注開始
2001年6月26日

株式会社ニコン(社長:吉田 庄一郎)は、超高N.A.レンズを搭載し、100ナノメートルルールの最先端デバイスの量産に対応する、レンズスキャン型(レンズスキャニング方式)ArF エキシマステッパー、ニコン縮小投影型露光装置 NSR-S306C(価格:未定)を開発し、来14(2002)年春から受注を開始いたします。
NSR-S306C は、ArFエキシマレーザ(波長193ナノメートル)に対応した世界初の超高 N.A.(N.A. 0.78)投影レンズを搭載し、φ200ミリウェハで1時間あたり135枚以上、φ300ミリウェハでは業界最高レベルの1時間あたり85枚以上の高スループットを誇ります。
開発の背景
IT 革命の根幹を担う、超 LSI の高集積化はとどまるところを知りません。今日では 128M DRAM の量産が開始され、更には 256M DRAM や 512M DRAM の量産に移行しようとしています。当社はこの時代の流れに対応し、平成7(1995)年4月に世界初のレンズスキャニング方式ステッパー NSR-S201A を発売。以後、当社のレンズスキャン型ステッパーは、世界中の半導体メーカーからその性能と信頼性に高い評価を得て、i(I) 線、KrF エキシマレーザ、ArF エキシマレーザの各機種を合わせて、これまでに400台以上の出荷実績を達成しております。
来年春より受注を開始する NSR-S306C は、世界初の超高 N.A.(N.A. 0.78)投影レンズの搭載で、120ナノメートルから100ナノメートルへと加速するデザインルールの微細化要求に応えるとともに、ライン構築が活発化するφ300ミリウェハで、業界最高レベルの1時間あたり85枚以上の高スループットを実現しています。
主な特長
- 超高 N.A.(0.78)投影レンズを搭載
世界初の N.A.0.78 という超高 N.A. 縮小投影レンズを搭載、120ナノメートル以下の解像度を実現。また、変形照明技術を用いることで、100ナノメートル以下の解像度も達成、微細化の進む次世代 DRAM や MPU などの量産に対応。
- スループット(処理能力)と装置安定性を更に向上
新開発のボディを採用し、振動や温度などの装置への影響を最小限に抑制。スループットも更に向上し、現在主流のφ200ミリウェハで135枚 / 時以上(当社従来機種比、約10% 向上)、ライン構築が活発化するφ300ミリウェハでは、業界最高レベルの85枚 / 時以上(弊社従来機種比、約 9 % 向上)を達成。
主な仕様
| NSR-S306C | ||
|---|---|---|
| 解像度 | 120nm 以下(通常照明時) | |
| 100nm 以下(変形照明時) | ||
| N.A.(開口数) | 0.78 | |
| 露光光源 | ArF エキシマレーザ(波長193nm) | |
| 縮小倍率 | 1/4 倍 | |
| 総合アライメント精度 | 23nm 以下(M+3σ) | |
| スループット | φ200mm ウェハ | 135 枚 / 時以上 |
| φ300mm ウェハ | 85 枚 / 時以上 | |
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